德國Mahr MarSurf XR 1粗糙度測量站
簡要描述：德國Mahr MarSurf XR 1粗糙度測量站輕松測量粗糙度、波紋度，無論是在測量室還是在生產中，MarSurf XR1粗糙度儀基于計算機平臺的儀器都能根據國際標準提供超過 80 種符合當前 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 標準的表面參數可用于 R-、P- 和 W 輪廓，多個不同驅動單元或設備可同時連接 MarSurf XR1粗糙度測量站
更新時間：2025-01-01- 訪 問 量：1781
| 品牌 | MarCal/德國馬爾 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 電子/電池,航空航天,汽車及零部件,電氣,綜合 |
德國Mahr MarSurf XR 1粗糙度測量站
輕松測量粗糙度、波紋度
用戶友好型表面度量的理想的低成本入門儀器。
無論是在測量室還是在生產中，該基于計算機平臺的儀器都能根據國際標準提供所有常見螺紋參數和輪廓。
Mahr 的 MarSurf XR 1 是面向未來的粗糙度系統(tǒng)的代表。
德國Mahr MarSurf XR 1粗糙度儀測量站特點：
• 超過 80 種符合當前 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 標準的表面參數可用于 R-、P- 和 W 輪廓
• 帶通濾波器 Ls 符合新標準；Ls 也可關閉或根據需要更換
• 全面的測量記錄
• 可以使用內置教學方法快速創(chuàng)建 Quick&Easy 測量程序
• 自動選擇截止和掃描長度
• 通過設置 Ra 或 Rz 參數支持各種校準方法（靜態(tài)和動態(tài)）
• 可調整維護和校準間隔
• 多種測量站配置可用于自定義應用
• 多種選項，提高系統(tǒng)靈活性
• 各種用戶權限級別，避免設備被濫用
多個不同驅動單元或設備可同時連接 MarSurf XR 1
德國Mahr MarSurf XR 1粗糙度測量站技術參數： | |
測量原則 | 探針法 |
測頭 | BFW 無導塊系統(tǒng)配有 MarSurf SD 26 驅動裝置和/或 PHT 有導塊系統(tǒng)配有 MarSurf RD 18 驅動裝置 |
測量范圍 mm | +/- 250 µm（高達 +/- 750 µm，3x 測桿長度）適用于 BFW 系統(tǒng) 350 µm 適用于 PHT 測頭系統(tǒng) |
過濾器符合 ISO/JIS 標準 | ISO 16610-21 標準濾波（代替 ISO 11562 標準的高斯濾波），ISO 16610-31 標準高斯濾波 |
掃描長度 | MarSurf GD 26 / SD 26:自動；0.56 mm*；1.75 mm；5.6 mm；17.5 mm，56 mm， 測量至擋塊，可變 掃描長度取決于 驅動裝置 RD 18:自動；1.75 mm；5.6 mm；17.5 mm |
采樣長度數量符合 ISO/JIS | 1 至 50（默認：5） |
針尖 | 2 µm |
測量力 (N) | 0.75 mN |
表面參數 | 超過 80 種符合當前 ISO / JIS 或 MOTIF (ISO 12085) 標準的表面參數可用于 R、P 和 W 輪廓 |
